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EMC測試設備
EMC測試設備
  • C測試儀 3506-10

    C測試儀 3506-10
    模拟測量時間0.6ms(1MHz)的高速測量 提高了抗幹擾性，在産線的上也能實現高反複精度 1kHz、1MHz測量下，低電容的貼片時可穩定測量 根據BIN的測定區分容量
  • C測試儀 3504-40/50/60

    C測試儀 3504-40/50/60
    高速測量2ms 能根據C 和D （損耗系數*2）的測量值，進行被測物合格與否的判斷 對應測試線，比較器功能/觸發輸出功能 3504-60/-50用BIN的分選接口進行被測物體的測試 3504-40記錄工具，實現高速/低成本的測試 查出全機測量中的接觸錯誤，提高成品率
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