MS-II輻射劑量計

作爲患者質量保證計劃的一部分，在第一次放射治療期間或之前，對計劃劑量進行獨立檢定的理由衆多，包括遵守專業治療實踐指南、降低風險、提高護理安全和質量等。

針對特定患者的劑量測量可提供重要信息，以便及早識别和修正提供規定劑量過程中的潛在錯誤或缺失。采用了LANDAUER(藍道爾)的光釋光(OSL)技術的nanoDot醫用劑量計和microSTARii醫用劑量測定系統，爲體内劑量測定提供了一種簡單、靈活的二極管或場效應晶體管(mosfet)的無線替代方案，還可以與QA模體一起使用以檢定機器輸出。

對于電路闆的制造商和集成商而言，X射線檢查過程中輻射劑量的危險在于高劑量對電路闆的物理損傷。

另一個潛在的問題是一些細微且不易察覺的故障，例如位翻轉，程序丢失，洩漏等，而故障的可能性很難評估，而且物理損壞通常肉眼難以察覺。對于一些關鍵的半導體設備，例如閃存，DRAM，微處理器等等，500 mGy（Si）的劑量就會造成損傷了。

因此，X射線檢查過程中監測這些元器件所受輻照劑量，并确保劑量不超過規定阈值将對保護這些電子元器件起到至關重要的作用。阈值應考慮産品壽命期間的累計劑量。

LANDAUER藍道爾開發的microSTAR®-ii劑量監測系統可用于監測電路闆所受劑量。 該系統所使用的劑量計nanoDot®的小尺寸和堅固性能保證輕松地将其安裝在電路闆上的所需位置。